長光辰芯（Gpixel）近日宣布推出兩款全新高速、高靈敏度背照式 TDI CMOS 圖像傳感器，分別為GLT5008BSI與GLT5016BSI。這兩款產品的發布，標志著長光辰芯在高端圖像傳感器領域的又一次技術突破。
據悉，GLT5008BSI與GLT5016BSI采用了更加優化的設計架構，不僅提升了行頻與量子效率，還在片上集成度上實現了顯著提升。這使得它們能夠更好地滿足半導體晶圓檢測、FPD檢測、高通量基因測序、生物熒光成像等多個行業的應用需求。
兩款傳感器均基于5μm的電荷域TDI像素設計，并集成了兩個譜段，積分級數分別為256級+32級。GLT5008BSI的有效分辨率為8208像素，支持10bit和12bit ADC輸出，最高行頻可達1MHz和500kHz；而GLT5016BSI的有效分辨率則高達16416像素，最高行頻也可達到500kHz。
在數據傳輸方面，GLT5008BSI與GLT5016BSI的最高輸出數據率分別達到了86.4Gbps和103.7Gbps，均可通過100GiGE相機接口進行高效傳輸。這一特性使得它們能夠輕松應對大數據量的處理需求，為高端儀器裝備行業的產業升級提供了有力支持。
針對不同應用場景，GLT5008BSI與GLT5016BSI還進行了ARC優化設計。其中，UV版本在300nm以下的峰值量子效率可達80%以上，在266nm下的量子效率也可達到65%以上；而VIS版本則擁有高達92.4%的峰值量子效率，波長為440nm。長光辰芯還可根據用戶需求提供不同譜段的ARC定制服務，以滿足更多樣化的應用需求。
GLT5016BSI作為一款16K背照式CMOS TDI圖像傳感器，其水平方向有效分辨率為16416，像素尺寸為5μm，最高滿阱容量達到15ke?。該傳感器具備優異的anti-blooming能力和大于0.99996的電荷轉移效率（CTE），最高級數支持256級。在最高行頻下，其功耗小于6.4W，并采用415引腳的μPGA陶瓷封裝，以確保高可靠性和良好的散熱性能。
而GLT5008BSI則是一款8K背照式CMOS TDI圖像傳感器，其水平方向有效分辨率為8208，像素尺寸為5μm，最高滿阱容量達到17ke?。該傳感器同樣具備優異的anti-blooming能力和大于0.99993的電荷轉移效率（CTE），峰值量子效率為93.4%，波長為440nm。得益于先進的背照式工藝和紫外量子效率優化工藝，其在266nm處的量子效率也大于63.9%。
這兩款傳感器的推出，無疑將為基因測序、半導體檢測、屏幕檢測等領域帶來更加準確、簡單、高效的解決方案，進一步推動相關行業的發展和進步。
